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    您的位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 膜厚測量儀  >  X射線鍍層測厚儀  >  XDLM-PCB200/210菲希爾X射線鍍層測厚儀

    菲希爾X射線鍍層測厚儀

    描述:菲希爾X射線鍍層測厚儀主要用于測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級、耐用型測量儀。

    • 01/

      產(chǎn)品型號:XDLM-PCB200/210
    • 02/

      廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    • 03/

      更新時間:2023-05-09
    • 04/

      訪問量:1928
    詳細內(nèi)容/ Product Details
    品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間50萬-100萬
    產(chǎn)地類別進口應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子/電池


    菲希爾X射線鍍層測厚儀


    用途:

     

    X射線鍍層測厚儀主要用于測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級、耐用型測量儀。


    菲希爾X射線鍍層測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:


    1、樣品定位簡單:① XDLM-PCB 200型:首先PCB板將在儀器集成的激光點的協(xié)助下準確放置于樣品臺上,然后將樣品臺如抽屜般推入儀器內(nèi)部;        

            ②XDLM-PCB210和220:儀器配備了高精度、可編程的XY平臺并帶有彈出功能;激光點作為輔助定位,能幫助快速對準測量位置;

    2、高分辨彩色攝像頭,使得對準測量位置的過程更加準確、簡便;

    3、通過強大且界面友好的WINFTM®軟件,可在電腦上便捷地完成整個測量過程,包括測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有 的相關(guān)信息的顯示等;  

    4、符合DIN ISO 3497和ASTM B568標準。

    項目

    型號

    XDLM-PCB200

    XDLM-PCB210/220

    通用規(guī)格

    設(shè)計用途

    能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) ,測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)樣品, 分析合金組分

    元素范圍

    從元素氯 (17) 到鈾 (92),最多可以同時測定24種元素

    工作臺

    平臺

    固定式樣品平臺帶有手動拉出功能

    馬達驅(qū)動可編程X/Y平臺,帶有自動彈出功能

    可用樣品平臺面積(寬×深)

    600 x 600mm 2

    帶擴展板時:1200 x 900mm2

    600 x 600mm2

    X/Y平臺最大移動距離

    \

    450mm x 300mm

    X/Y平臺最大移動速度

    \

    80mm/s

    X/Y平臺最大移動精度

    \

    ≤0.01mm(單向)

    電器參數(shù)

    電源要求

                             AC220V 50Hz

    功耗

                    最大120W(不包括計算機)

    保護等級

                             IP40

    環(huán)境要求

    使用溫度

    10℃-40℃

    存儲或運輸時的溫度

    0℃-50℃

    空氣相對濕度

    ≤95%RH,不結(jié)露

    設(shè)計單元

    計算機

    Windows®-PC

    軟件

    標準:Fischer WinFTM® BASIC 可選:Fischer WinFTM® PDM®,SUPER

    尺寸規(guī)格

    外部尺寸(寬×深×高)

    610mm×750mm×450mm

    Xy樣品臺處于最大行程時: 1000mm×1265mm×470mm

    帶擴展板時: 1200mm×1050mm×450mm

    XY樣品臺處于初始狀態(tài)時: 650mm×810mm×470mm

    重量

    86KG



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