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    PCB特性阻抗測(cè)試儀

    描述:PCB特性阻抗測(cè)試儀適用于高頻線路板特性和S參數(shù)阻抗測(cè)試,為PCB制造廠商提供了一套快速、準(zhǔn)確、標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)濟(jì)的TDR特性阻抗測(cè)試解決方案。

    • 01/

      產(chǎn)品型號(hào):ZK2130
    • 02/

      廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    • 03/

      更新時(shí)間:2023-04-26
    • 04/

      訪問(wèn)量:2584
    詳細(xì)內(nèi)容/ Product Details
    品牌其他品牌產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
    應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,能源,電子/電池,綜合

    PCB特性阻抗測(cè)試儀用途:

    該儀器適用于高頻線路板特性和S參數(shù)阻抗測(cè)試,為PCB制造廠商提供了一套快速、準(zhǔn)確、標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)濟(jì)的TDR特性阻抗測(cè)試解決方案。

     

    PCB特性阻抗測(cè)試儀特征:

    1、精準(zhǔn):采用高精度探頭、高頻同軸開(kāi)關(guān),以及時(shí)域反射、同步高分辨率采樣和多點(diǎn)校準(zhǔn)等技術(shù);

    2、高效:測(cè)試步驟集成,多任務(wù)一鍵測(cè)試;

    3、特色:可提供測(cè)試波形分析、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)、自動(dòng)出具檢測(cè)報(bào)告并打印,校準(zhǔn)功能開(kāi)放。

     

    技術(shù)參數(shù):

    項(xiàng)目

    TDR-ZK2130

    TDR-ZK3185

    測(cè)試精度

    ±1%(50Ω)

    檢測(cè)速度

    ≤1s/點(diǎn)

    對(duì)象

    ①測(cè)量范圍 : 20Ω~150 Ω

    ①測(cè)量范圍 : 20Ω—200Ω

    ②測(cè)量長(zhǎng)度 :0.05m~2m

    ②測(cè)量長(zhǎng)度 :0.02m~2m

    帶寬

    3GHz

    0.1GHz-8.5GHz

    損耗測(cè)試

    /

    S參數(shù)測(cè)量

    動(dòng)態(tài)范圍

    /

    可測(cè)量被測(cè)件的真實(shí)性能:>100dB


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